半导体泵浦激光原理实验装置

产品详细资料

       XGL-2/2A半导体泵浦激光原理实验装置主要适用于大学近代物理教学中非线性光学实验，实验系统采用波长为808nm的半导体泵浦源，激光晶体为Nd:YVO4，以及KTP倍频晶体等，学生可以自己动手，通过调整激光器光路，观察倍频现象，并测量倍频效率、相位匹配角等参数，从而进一步了解和掌握激光原理及激光技术。

XGL-2/2A半导体泵浦激光原理实验装置实验内容

1. LD泵浦Nd:YVO4固体激光器的基本概念
2. LD泵浦Nd:YVO4固体激光器的主要参数测量（阈值、斜率效率等）
3. LD泵浦Nd:YVO4固体激光器的倍频原理和实验
4. LD泵浦Nd:YVO4固体激光器光斑尺寸的测量
5. LD泵浦Nd:YVO4固体激光器远场发散角的测量

XGL-2/2A半导体泵浦激光原理实验装置规格参数

1. 光学导轨：490mm，硬铝型材
2. 泵浦光源：808nm半导体激光器
3. 指示光源：632.8nmHe-Ne激光器，功率≥1.5mw
4. 激光晶体：ND:YVO4以及KTP倍频晶体等，构成整个实验系统
5. 光学元件：输出镜等
6. 激光功率指示仪：2μW、20μW、200μW、2mW、20mW、200mW六档功能范围，3位半数字显示
7. 其他附件：二维调整架、四维调整架等

XGL-2/2A半导体泵浦激光原理实验装置基本配置

1. XGL-2/2A半导体泵浦激光原理实验装置主机
2. SD808-1000G3泵浦光源
3. 准直氦氖激光器（含电源）
4. 刀口部件、光阑部件
5. 实验讲义
6. 配套工具等

选配

1. 激光功率指示仪

注：XGL-2A型激光功率指示仪为标准配置。